掃描電鏡在納米材料領域中扮演著重要的角色，可以通過觀察和分析納米材料的結構和性能，為納米材料的研究和應用提供重要的指導。

掃描電鏡可以直接觀察納米材料的結構、顆粒尺寸、分布、均勻度及團聚情況，結合能譜還能對納米材料的微區成分進行分析，確定納米材料的組成。利用掃描電鏡分析納米材料，可建立起納米材料種類、微觀形貌與宏觀性質之間的聯系，對于改進合成條件，制備出具有優異性能的納米材料有很重要的指導意義。

其次，對于高分子材料，掃描電鏡可直接觀察高分子材料（如均聚物、共聚物及共混物）的粒、塊、纖維、膜片及其制品的微觀形貌，粉體顆粒及纖維等增強材料在母體中的分散情況。另外，掃描電鏡還能觀察高分子材料在老化、疲勞、拉伸及扭轉等情形下斷口斷裂和擴散的情況，為分析斷裂的起因，斷裂方式及機理提供幫助。

 總之，掃描電鏡在納米材料領域的應用包括但不限于：
1、可以直接觀察納米材料的表面形貌和結構，幫助研究者了解材料的微觀世界。
2、可以結合能譜技術對納米材料進行微區成分分析，進一步揭示材料的組成和性質。
3、可以直接觀察高分子材料制品的微觀形貌，幫助研究者理解材料的形成過程和機理。
4、可以觀察高分子材料在老化、疲勞、拉伸及扭轉等情形下的斷口斷裂和擴散情況。